EMTEK5168CC银河电子电气材料失效分析能力解决方案

日期: 2023-09-06


失效是指材料、器件和产品失去原有功能或设计要求的破坏行为。失效分析是要找出破坏的原因,提出产品在成分、工艺、设计、使用和维护等全生命周期各个不同阶段的改进建议,乃至实施措施。


材料及其制品的失效分析是利用微观表征、力学试验、化学成分分析和无损检测等各种手段确认失效原因与机理、鉴别责任、找出潜在缺陷、提出纠正措施。


器件和产品的失效分析更复杂,既有生产、装配、运输、使用的原因,也有材料选择和材料质量的原因,更有设计的原因。它一般先通过功能性/可靠性试验来筛查,如果都排除了,后面就需要进行材料的失效分析。





EMTEK5168CC银河实验室具备材料微观表征、力学试验、残余应力测量、化学成分分析和无损检测等材料深入分析的先进实验手段,拥有一支经验丰富、专业资深的材料失效分析专家团队,可针对各类电子电气产品开展电磁兼容检测、禁用物质检测、可靠性检测、光电性能检测。


实验室严格依照ISO/IEC17025体系运营,已获得CNAS、CMA、CATL、CQC、美国FCC、 CPSC、A2LA、加拿大IC、德国TUV、日本VCCI、中国船级社等认可或授权资质,是国家AQSIQ认定的进出口商品检验鉴定机构,是IEC认定的CB全球认证实验室。


通用项目



覆盖产品范围


电子电气产品中的金属、塑料、复合材料、半导体、玻璃、涂层和钎焊接头


能力类型及测试标准


微观表征


电子组件,线路板及焊接材料

金相切片(制样)

Electronic component micro sectioning

IPC-TIM-650 2.1《手动、半自动、自动微切片方法》

(Microsectioning, Manual and Semi or Automatic)

微区成分分析

GB/T 17359-2012 微束分析 能谱法定量分析

Microbeam anslysis-quantitative analysis using energy dispersive spectrometry

JY/T 0584-2020 分析型电子显微方法通则(General rules for analytical scanning electron microscopy)

(断口)形貌观察

JY/T 0584-2020 分析型电子显微镜方法通则 (General rules for analytical scanning electron microscopy)

锡须观察

JEDEC JESD22-A121A-2008(R2014) 锡和锡合金表面上晶须生长测量的测试方法

Measuring whisker growth on tin and tin alloy surface finishes

金属平均晶粒度

GB/T 6394-2017 金属平均晶粒度测定方法(Determination of estimating the average grain size of metal)

金属显微组织

GB/T 13298-2015 金属显微组织检验方法(Inspection methods of microstructure for metal)

钢中非金厘夹杂物含量

GB/T 10561-2005 钢中非金属夹杂物含量的测定-标准评级图显微检验法

Steel-determination of content of nonmetallic inclusions-Micrographic method using standards diagrams

织构分析(EBSD)


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测试仪器:

精密切片机

研究级金相显微镜(OM)

场发射扫描电镜(SEM)



应力测量


应力检测

GB/T 7704-2017无损检测 X射线应力测定方法( Non-destructive testing - practice for residual stress measurement by X-ray.

EN 15305:2008 Non-destructive testing - practice for residual stress measurement by X-ray

GB/T31218-2014金属材料 残余应力测定 全释放变法 (Metallic materials - Determination of residual stress - Sectioning relaxation strain-gauge method)

ISO23458:2020 Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) —Test method for determining thermal expansion coefficient and residual stress of CVD ceramic coatings

GB/T 18144-2008 玻璃应力测试方法 (Test method for measurement of stress in glass)

JB/T 9495.4-1999 光学晶体应力双折射 测量方法 JB/T 9495.4-1999 Measuring method for stress - birefringence of optical crystal)

GB/T 34899:2017 微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构 表面应力测试方法

GB/T 34899-2017 Micro electromechanical system technology - Measuring method of microstructures surface stress based on Raman spectroscopy 

测试仪器:

拉曼测量系统

X 射线应力仪

钻孔应力仪



涂层分析


镀层厚度

Coating thickness

ASTM B487-20 通过横截面法显微检验法测试金属及氧化物厚度标准方法

Standard Test Method for Measurement of Metal and Oxide Coating Thickness by Microscopically Examination of Cross Section

GB/T 6462-2005 金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法

Metallic and oxide coatings-Measurement of coating thickness-Microscopical method

GB/T 13452.2-2008 5.4 色漆和清漆 漆膜厚度的测定

Varnishes-Determination of film thickness

ASTM B568-98(Reapproved 2021) X射线法测量镀层厚度的标准测试方法

Standard Test Method for Measurement of Coating Thickness by X-RAY Spectrometry

GB/T 16921-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱法

Metallic coatings- Measurement of coating inckness-X-ray spectrometric methods

GB/T31563-2015 金属覆盖层厚度测量 扫描电镜法

Metallic coatings- Measurement of coating thickness-Scanning electron microscope method

涂层光泽度

Coating specular gloss

ASTM D523-14 (Reapproved 2018) 光泽度标准测试方法

Standard Test Method for Specular Gloss

BS EN ISO 2813: 2014 非金属涂层的光泽度测试方法(20°,60°,85°)

Paints and varnishes - Determination of gloss value at 20 degrees, 60 degrees and 85 degrees.

测试仪器:

原子力显微镜(AFM)

聚焦离子数显微镜

(FIB-SEM+EDS+EBSD)

 X射线衍射仪


力学试验/无损检测


力学试验

维氏硬度

GB/T 4340.1 金属材料 维氏硬度试验 第1部分:试验方法

努氏硬度

ASTM E92-23 Standard Test  Methods for Vickers Hardness and Knoop Hardness of Metallic Materials

纳米压痕

GB/T 21838 金属材料 硬度和材料参数的仪器化压入试验 (系列标准)

拉伸/剪切

GB/T228.1-2021 金属材料 拉伸试验 第1部分:室温试验方法

无损检测

光镜检查

IPC-TM-650 2.1

2D-射线检查

IPC-TM-650 2.6.10

3D-射线检查

IPC-TM-650  2.6.10

CT

GB/T 29068-2012

ISO 15708-2: 2017

ASTM E1672:20

测试仪器:


维氏硬度计

拉伸试验机

纳米压痕仪


检测周期及所需资料


视委托要求,简单的需要3-5个工作日完成,复杂的需要30-60个工作日完成。具体请咨询5168CC银河客服人员。


委托时需要填写材料失效信息调查表,尽可能提供:

1

样品的结构及工艺特点(生产工艺、热处理制度等、尽量提供结构和原理图、照片等);

2

样品的主要参数指标(样品或原材料规格书等);

3

失效现场现象记录及分析要求 (包括故障现象、操作因素及其它与引起失效有关的信息如使用的辅助化学品等)等信息。


样品数量


失效样品至少1件,正常样品1件(如果有需要,对比用)。


测试联系


服务热线:+86-769-2280 7078 / 18971697923

服务邮箱:lirongfeng@emtek.com.cn



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